深圳平湖实验室亮相SEMI-e

9月10日-12日，SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展在深圳国际会展中心正式拉开帷幕。本届展会聚焦“IC设计与应用”“IC制造与供应链”“化合物半导体”三大核心主题，全方位覆盖集成电路全产业链。深圳平湖实验室携近期科研成果集中亮相，部分专家学者还受邀担任分论坛的报告嘉宾，充分体现其公共、开放、共享的平台优势，为行业发展注入“芯”动能！

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展会现场交流氛围热烈，各类行业前沿与创新成果集中登台展示。其中，深圳平湖实验室的展台吸引了部分行业龙头企业及优质客户驻足，围绕技术应用与产业合作展开深度交流。尤其在分析检测领域，通过现场洽谈和技术交流，多家企业表达了合作意向，不仅为端到端的全方位、全流程分析检测合作搭建了高效对接通道，也为后续产业协同发展奠定了基础。

今年SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展与CIOE中国光博会同期同地举办，双展深度融合“半导体+光电子”产业，扩大协同效应，还有超20场同期会议举行，围绕芯片及芯片设计、第三代半导体/功率半导体、半导体制造、先进封装集中探讨集成电路产业的创新与发展。

左正博士报告

在功率半导体器件技术与应用创新发展论坛上，深圳平湖实验室的主任助理左正博士作了《功率半导体的发展，挑战和创新》的报告。他在报告会上剖析了功率半导体的发展脉络，重点讨论了行业面临的挑战，最后还向与会嘉宾介绍了深圳平湖实验室的发展沿革和技术服务能力。

李齐治博士报告

在半导体分析检测应用与设备联动发展论坛上，深圳平湖实验室的材料分析助理研究员李齐治博士做了《基于四级杆二次离子质谱仪的GaN材料分析技术研究》的报告。报告聚焦半导体工艺中的实际测试需求，基于四极杆 SIMS 开展针对性研究，包括降低GaN中C元素的检出限、采用铯（Cs）负离子模式实现铝（Al）组分的精准测量，以及解决带有图案化结构样品的定量分析难题。其分享的研究成果可为GaN外延工艺的优化迭代提供重要技术支撑与数据反馈。

此次SEMI-e为深圳平湖实验室提供了一个展示自身实力和技术的平台，也让更多业界人士了解到了功率半导体的市场应用和发展前景。作为聚焦SiC和GaN及下一代先进功率半导体等开展核心技术攻关，面向全国的开放、公共、共享平台，实验室将继续为推动半导体产业高质量发展贡献更大力量。