在半导体、新能源、催化等前沿领域，材料性能的提升依赖于对原子级结构与动态行为的精准解析。传统透射电子显微镜（TEM/STEM）虽能提供高分辨成像，但面临信息维度单一和参数固定性的局限，近些年来发展的4D-STEM技术耦合了多个维度信息，能够全面捕捉电子散射的完整物理信息。     本方案使用的机台为日本电子球差透射电子显微镜（Cs-TEM，JEOL NEOARM 200），搭配Merlin直接电子探测器相机采集4D-STEM数据，通过python代码处理，可以获得： 任意虚拟探测器对应的实空间图像 电子叠层重构成像 质心偏移（CoM）计算 微区电磁场测量 微区应变分布测量 微区晶体取向测量     图1展示了通过在倒空间（衍射平面）设置不同弧度、形状、位置的虚拟探测器作为mask；并进一步积分得到的样品实空间图像。 明场像（BF）收集衍射图谱中心的透射电子（低散射角，接近光轴），主要反映样品厚度、密度及非晶结构的形貌差异。 低角度环形暗场像（LAADF）收集小角度弹性散射电子，可用于晶体应变与取向分析。 环形...